摘要：为了研究电老化（ETA）和加速水树老化（AWTT）对交联聚乙烯（XLPE）绝缘理化特性的影响，分别对ETA和AwTT的实际电缆试样进行红外光谱（FTIR）、X射线衍射（XRD）和热质量分析（TG）测试，分析其理化特性随着老化的变化规律。建立了AWTT的微观模型，从微观形态变化、陷阱的形成角度对老化机理进行了深入分析。
结果发现：ETA和AWTT试样绝缘内R1R2C-CH
2、-OH键均出现上升趋势，AWTT试样羟基增长速率大于ETA试样，而两种老化过程中双键的增加速率相当；ETA试样电缆绝缘结晶度先上升后下降，AWTT试样电缆绝缘结晶度呈下降趋势；ETA与AWTT都使得绝缘热稳定性下降，ETA试样的微分热质量（DTG）曲线未出现分峰现象，AWTT试样DTG曲线在老化后分裂出多个峰，老化时间越长分裂的峰越多。对试验结果进行分析，在老化过程中，理化特性的变化规律可以由微观模型结合陷阱的变化进行合理解释，老化过程中产生的陷阱对绝缘性能产生重要影响。
关键词：交联聚乙烯绝缘；电老化；加速水树老化；微观形态学；陷阱
中图分类号：TM215.1；TM247 文献标志码：A 文章编号：0253-987X（2015）04-0032-08
